[发明专利]半导体器件在审
申请号: | 201910466683.2 | 申请日: | 2019-05-30 |
公开(公告)号: | CN110875375A | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 卢昶佑;姜明吉;金昊俊;裵金钟;裵东一 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/41;H01L29/78 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 根据示例实施例的半导体器件包括:衬底,在彼此相交的第一方向和第二方向上延伸;纳米线,在所述衬底上并在所述第二方向上彼此间隔开;栅电极,在所述第一方向上延伸且在所述第二方向上彼此间隔开,并围绕所述纳米线以与所述纳米线竖直地叠置;外部隔墙,在所述衬底上并覆盖所述纳米线上的所述栅电极的侧壁;以及隔离层,在所述栅电极之间并在所述第一方向上延伸,其中,所述隔离层的上表面与所述栅电极的上表面齐平。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
暂无信息
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