[发明专利]针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统

摘要

本发明涉及一种针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统，包括干扰采样模块阵列，对外界的多路电磁干扰进行初级滤波和采样，并将多路干扰数据传送给采样信息处理模块；采样信息处理模块接收多路干扰数据和控制参数，计算出磁共振系统扫描区域的干扰数据，传递给通信传输模块；通信传输模块接收控制参数后发送给采样信息处理模块；将干扰处理结果发送给上位机。本发明能够通过对远离磁共振系统磁体本体强磁场区域的外界电磁干扰进行检测来得到扫描区域的干扰数据，并可以将干扰数据进行实时传输，以便于后续设备实时利用该数据消除外界干扰对磁共振系统成像质量的影响。

主权项

1.一种针对影响磁共振系统成像质量的外界电磁干扰的检测系统，其特征在于，包括干扰采样模块阵列，连接采样信息处理模块，用于对外界的多路电磁干扰进行初级滤波和采样，并将多路干扰数据传送给采样信息处理模块；采样信息处理模块，连接采样信息处理模块和通讯模块，用于接收干扰采样模块阵列发送的多路干扰数据和通信传输模块发送的控制参数，利用控制参数处理多路干扰数据，通过干扰强度处理和干扰相位处理，计算出磁共振系统扫描区域的干扰数据，并将干扰处理结果传递给通信传输模块；通信传输模块，连接采样信息处理模块和上位机，用于接收上位机发送的控制参数后发送给采样信息处理模块；并且将采样信息处理模块发送的干扰处理结果发送给上位机。