[发明专利]电路单元特征化方法、数据存储、访问方法和处理系统在审
| 申请号： | 201910526132.0 | 申请日： | 2019-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN110245432A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 吴玉平;陈岚;张学连 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 温可睿 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种电路单元特征化方法、数据存储、访问方法和处理系统，电路单元长期可靠性特征化方法，包括计算电路单元中每个器件对应的阈值电压变化范围，通过选取阈值电压变化范围中的多个阈值电压值，然后将多个器件对应的不同阈值电压值进行组合，然后针对每一个组合进行电路单元特征化，得到对应的特征化数据。也即得到的特征化数据包含了阈值电压变化的因素，因此使得，特征化数据更加接近电路单元的真实情况，能够得到不同老化程度下的电路单元特征化数据，使得电路单元特征化数据更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 电路单元 特征化数据 特征化 阈值电压变化 处理系统 数据存储 阈值电压 计算电路单元 长期可靠性 多个器件 访问 老化 申请 | ||
【主权项】：
1.一种电路单元长期可靠性特征化方法，其特征在于，包括：计算电路单元中所包含的每个器件对应的阈值电压变化范围，所述阈值电压变化范围为非老化状态下或初始老化状态下对应的阈值电压到预设老化状态对应的阈值电压之间的范围；根据多个器件对应的阈值电压变化范围，确定多个器件在不同阈值电压取值下形成的阈值电压组合；对每一个所述阈值电压组合下的电路单元进行特征化，获取电路单元特征化数据。
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