[发明专利]一种偏光片的异物鉴定方法在审
| 申请号： | 201910539820.0 | 申请日： | 2019-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN111458307A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 钟铁涛;梁郅旺;周婷婷;孙琴;霍丙忠 | 申请（专利权）人： | 深圳市三利谱光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563;G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙) 44555 | 代理人： | 陈文姬 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种偏光片的异物鉴定方法，包括以下步骤：削片的步骤：确定偏光片内异物所处的位置，对偏光片进行削片，通过控制削片的深度，使得异物裸露出来；提取异物的步骤：用样品针将所述削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；鉴定异物的步骤：用红外光谱仪对所述异物样品进行检测，得到红外光谱图；将所述红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分。本发明能够鉴定偏光片内的异物的成分，从而判断偏光片内的异物的来源。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏光 异物 鉴定 方法 | ||
【主权项】：
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