[发明专利]射频探针的测试装置和测试方法有效
| 申请号： | 201910564056.2 | 申请日： | 2019-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN110261651B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 刘学文;马云勇;乔全宝 | 申请（专利权）人： | 深圳市速联技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R27/06 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 诸炳彬 |
| 地址： | 518106 广东省深圳市光明新*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种射频探针的测试装置及方法，涉及射频检测技术领域。其技术要点包括供射频探针插入检测的射频同轴外壳、安装于射频同轴外壳轴向端部用于获取射频探针输出信号的测试转接器以及电连接于测试转接器的主机控制端，所述射频同轴外壳包括开设有安装孔供射频探针插接的内轴筒、套设固定于内轴筒一侧的外底筒、滑移套设于内轴筒一侧的外顶筒以及设置于外底筒和外顶筒之间具有驱使外顶筒远离外底筒弹性的弹性件；所述外顶筒和内轴筒之间设置有限制外顶筒滑出内轴筒的限位副；当所述外顶筒受限位副限位时，所述外顶筒远离射频转接器的轴向端面从内轴筒离射频转接器的轴向端面处凸出，本发明具有全面测量射频探针性能的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 探针 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种射频探针的测试装置，包括供射频探针插入检测的射频同轴外壳(1)、安装于射频同轴外壳(1)轴向端部用于获取射频探针输出信号的测试转接器(2)以及电连接于测试转接器(2)的主机控制端(3)，其特征在于：所述射频同轴外壳(1)包括开设有安装孔供射频探针插接的内轴筒(11)、套设固定于内轴筒(11)面向测试转接器(2)一侧的外底筒(12)、滑移套设于内轴筒(11)远离测试转接器(2)一侧的外顶筒(13)以及设置于外底筒(12)和外顶筒(13)之间具有驱使外顶筒(13)远离外底筒(12)弹性的弹性件(14)；所述外顶筒(13)和内轴筒(11)之间设置有限制外顶筒(13)滑出内轴筒(11)的限位副；当所述外顶筒(13)受限位副限位时，所述外顶筒(13)远离射频转接器的轴向端面从内轴筒(11)离射频转接器的轴向端面处凸出。
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