[发明专利]一种加深理解测试线测量原理的教学系统及方法有效

专利信息
申请号: 201910576550.0 申请日: 2019-06-28
公开(公告)号: CN110264842B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 冯涛;彭鑫;薛卓尔 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: G09B23/18 分类号: G09B23/18
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 皋吉甫
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于教学系统领域,具体涉及一种加深理解测试线测量原理的教学系统及方法。所述教学系统及方法可以加深学生对测量元件测试线测量原理的理解。所述教学系统包括:测试线测量原理实验箱;服务器;用户端,包括数据输入模块及数据显示模块,所述输入模块用于学生输入电路参数数据,所述数据包括学生根据所述测试电路中已知的参数计算的理论数据及进行测量得到的实验数据;所述显示模块用于显示所述理论和实验的电路参数数据以及比较结果。本发明有助于提高学生主动思考的能力,而不是被动机械的按照书本的要求操作,从而使学生能够更深入的理解电流测试线的测量原理,提高动手能力以及独立分析和解决问题的能力。
搜索关键词: 一种 加深 理解 测试 测量 原理 教学 系统 方法
【主权项】:
1.一种加深理解测试线测量原理的教学系统,其特征在于,所述教学系统包括:测试线测量原理实验箱,所述试验箱包括多个电子元件,所述电子元件通过多条支路组成测试电路,所述测试电路中包括多个电流/电压插座,学生采用电流/电压表上的电流/电压测试线对测试电路进行电路参数测量实验;服务器,用于储存电路参数理论数据和实验数据,且对所述的理论数据和实验数据进行比较,并将比较结果传输给用户端;用户端,包括数据输入模块及数据显示模块,所述输入模块用于学生输入电路参数数据,所述数据包括学生根据所述测试电路中已知的参数计算的理论数据及进行测量得到的实验数据;所述显示模块用于显示所述理论和实验的电路参数数据以及比较结果。
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