[发明专利]一种面铜厚检测测试点的选取方法有效
申请号: | 201910577582.2 | 申请日: | 2019-06-28 |
公开(公告)号: | CN110187262B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 张也;吴鹏辉;胡孝楠 | 申请(专利权)人: | 广东正业科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张春水;唐京桥 |
地址: | 523808 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种检测测试点的选取方法,选取方法包括以下步骤:系统获取PCB板的孔线资料;系统获取孔线资料上定位点的选取信息;系统获取选取的定位点在PCB板上至PCB板边的板边距;系统获取PCB板的尺寸资料;系统根据板边距,将尺寸资料和孔线资料整合,形成PCB板面模型,从而便于测试点的选取。选取测试点分为自动选点模式和手动人工选点模式,自动时自动搜索满足测试点最低要求面积的区域,一般为9点法;手动时进行人工判定。之后将测试点坐标输出。该方法可避免测试点与孔线重合,确保了铜厚数据的精准稳定且避免探针对线路的影响。进而准确地得到了面铜均匀性的计算数据。实现了PCB面铜在线自动无损检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 面铜厚 检测 测试 选取 方法 | ||
【主权项】:
1.一种检测测试点的选取方法,其特征在于,包括以下步骤:系统获取PCB板的孔线资料;系统获取孔线资料上定位点的选取信息;系统获取选取的定位点在PCB板上至PCB板边的板边距;系统获取PCB板的尺寸资料;系统根据板边距,将尺寸资料和孔线资料整合,形成PCB板面模型。
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