[发明专利]一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法有效
申请号: | 201910600103.4 | 申请日: | 2019-07-04 |
公开(公告)号: | CN110320463B | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
发明(设计)人: | 万乔;范小健;袁亚文;余明火 | 申请(专利权)人: | 深圳安时达技术服务有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 | 代理人: | 黄章辉 |
地址: | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供了一种实现待测设备智能老化控制的装置和方法,应用于电子技术领域,用于解决目前待测设备例如电视或主板老化实验存在难以单独对待测设备进行老化控制的问题。该装置包括:包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元,其特征在于,还包括开关选择单元和开关单元,所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接,所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端,所述开关单元的另一端连接待测设备。本申请通过控制开关选择单元控制接入的每一台待测设备的通电与断电,实现对单台或多台待测设备的老化的独立控制。 | ||
搜索关键词: | 一种 实现 设备 智能 老化 控制 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种实现待测设备智能老化控制的装置,包括微控制处理器、存储单元、电源、输入单元,其特征在于,还包括开关选择单元和开关单元,所述存储单元、所述电源、所述输入单元及所述开关选择单元的一端均与所述微控制处理器连接,所述开关选择单元的另一端连接所述开关单元的一端,所述开关单元的另一端连接待测设备;所述电源,用于为所述微控制处理器、所述存储单元、所述输入单元及所述开关选择单元供电;所述存储单元,用于存储开关单元的地址;所述输入单元,用于接收测试指令及所述待测设备的测试时间,并将所述测试指令及所述测试时间输入至所述微控制处理器;所述微控制处理器,用于根据所述测试指令、所述开关单元的地址及所述测试时间生成对应开关单元的电平控制信号,并将所述电平控制信号发送至开关选择单元;所述开关选择单元,用于根据所述电平控制信号生成不同的高低电平,通过所述高低电平控制所述开关单元中对应开关的闭合或断开;所述开关单元,用于根据所述开关选择单元的电平信号控制对应待测设备中各电路的上电或断电。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳安时达技术服务有限公司,未经深圳安时达技术服务有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910600103.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种测试装置及晶片自动测试机
- 下一篇:一种PCB线路板工装以及检测方法