[发明专利]一种连续扫描截面升维空间定位方法有效
申请号: | 201910602703.4 | 申请日: | 2019-07-05 |
公开(公告)号: | CN110353775B | 公开(公告)日: | 2022-07-15 |
发明(设计)人: | 张凌云;向斌;向华 | 申请(专利权)人: | 湖南卓世创思科技有限公司 |
主分类号: | A61B17/34 | 分类号: | A61B17/34 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 郭立中;李发军 |
地址: | 410217 湖南省长沙市长沙高新*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种连续扫描截面升维空间定位方法。所述定位方法包括如下步骤:S1、还原CT或者磁共振扫描的直角立体坐标系,确定病变最大层面,并使用两条相交的定位线或者这两条相交直线所在的三个平面确定病变中心;S2、利用两条定位线与通过体表任一拟穿刺点的穿刺线,两条定位线与穿刺线相交于病变核心点形成三个平面的几何特征,使用平面辅助显示手段分别显示两条定位线与拟穿刺点形成的两个平面,两个平面的相交线即为穿刺线,如此确定拟穿刺角度;S3、自拟穿刺点引出任一定位线的平行线,在此两根平行线间再做穿刺线的平行线,从而得到穿刺深度D。本发明可以方便快速地辅助确定拟穿刺角度和拟穿刺深度D。 | ||
搜索关键词: | 一种 连续 扫描 截面 空间 定位 方法 | ||
【主权项】:
1.一种连续扫描截面升维空间定位方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、还原CT或者磁共振扫描的直角立体坐标系,确定病变最大层面,并使用两条相交的定位线或者这两条相交直线所在的三个平面确定病变中心;S2、利用两条定位线与通过体表任一拟穿刺点的穿刺线,两条定位线与穿刺线相交于病变核心点形成三个平面的几何特征,使用平面辅助显示手段分别显示两条定位线与拟穿刺点形成的两个平面,两个平面的相交线即为穿刺线,如此确定拟穿刺角度;S3、根据平行四边形对边等长原理自拟穿刺点引出任一定位线的平行线,在此两根平行线间再做穿刺线的平行线,从而得到穿刺深度D。
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