[发明专利]激光切割设备的校正方法、激光切割设备、及储存介质有效

专利信息
申请号: 201910633075.6 申请日: 2019-07-12
公开(公告)号: CN110270770B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 王双;贾长桥;盛辉;张凯;林克斌 申请(专利权)人: 深圳泰德激光科技有限公司
主分类号: B23K26/70 分类号: B23K26/70;B23K26/38
代理公司: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 代理人: 刘冰
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种激光切割设备的校正方法,包括以下步骤:通过激光干涉仪对直线平台进行校正,并通过CCD定位系统检测所述直线平台的移动量;根据所述CCD定位系统检测的所述移动量确定所述CCD定位系统的误差,并根据所述CCD定位系统的误差确定CCD定位系统定位坐标;通过所述CCD定位系统获取场镜的实际移动量,并根据所述场镜的实际移动量及所述CCD定位系统定位坐标确定所述场镜的移动误差;根据所述场镜的移动误差对所述场镜进行线性校正。本发明还公开了一种激光切割设备及计算机可读存储介质,达成了提高激光切割设备的切割精度的效果。
搜索关键词: 激光 切割 设备 校正 方法 储存 介质
【主权项】:
1.一种激光切割设备的校正方法,其特征在于,所述激光切割设备的校正方法包括以下步骤:通过激光干涉仪对直线平台进行校正,并通过CCD定位系统检测所述直线平台的移动量;根据所述CCD定位系统检测的所述移动量确定所述CCD定位系统的误差,并根据所述CCD定位系统的误差确定CCD定位系统定位坐标;通过所述CCD定位系统获取场镜的实际移动量,并根据所述场镜的实际移动量及所述CCD定位系统定位坐标确定所述场镜的移动误差;根据所述场镜的移动误差对所述场镜进行线性校正。
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