[发明专利]包括栅极间隔物结构的集成电路器件在审

专利信息
申请号: 201910644431.4 申请日: 2019-07-17
公开(公告)号: CN110896073A 公开(公告)日: 2020-03-20
发明(设计)人: 尹灿植;金桐晤;朴济民;李基硕 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/088 分类号: H01L27/088;H01L21/8234
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 屈玉华
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种集成电路器件包括在基层上的栅极堆叠结构以及在栅极堆叠结构的相反侧壁上且在基层上的栅极间隔物结构,栅极堆叠结构具有栅极绝缘层和在栅极绝缘层上的栅极结构,栅极绝缘层具有在基层上并具有第一相对电容率的第一电介质层,栅极间隔物结构包括位于基层上的掩埋在位于栅极间隔物结构的下部处的栅极绝缘层的凹陷孔中的掩埋电介质层,掩埋电介质层包括与第一电介质层相同的材料。
搜索关键词: 包括 栅极 间隔 结构 集成电路 器件
【主权项】:
暂无信息
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