[发明专利]获取校准系数的方法、装置及校准芯片有效
申请号: | 201910646843.1 | 申请日: | 2019-07-17 |
公开(公告)号: | CN110244251B | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 程树青 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人: | 李杰 |
地址: | 518045 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请实施例提供一种获取校准系数的方法、装置及校准芯片,获取校准系数的方法包括:将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到待校准传感器的治具测量电容值;根据校准函数以及治具测量电容值得到待校准传感器的校准系数;校准函数用于指示用户在合格传感器上检测得到的电容值和利用测试治具在合格传感器上检测得到的电容值之间的转换关系,校准系数用于对待校准传感器检测的电容值进行校准。使得传感器都能够与合格传感器的佩戴性能保持精确度一致,校准系数更加准确,提高了校准效率。 | ||
搜索关键词: | 获取 校准 系数 方法 装置 芯片 | ||
【主权项】:
1.一种获取校准系数的方法,其特征在于,包括:将接地的测试治具压合到待校准传感器的敏感元件所在区域上进行检测得到所述待校准传感器的治具测量电容值;根据校准函数以及所述治具测量电容值得到所述待校准传感器的校准系数;所述校准函数用于指示通过用户压合到合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值和利用接地的测试治具压合到所述合格传感器的敏感元件所在区域上检测得到的电容值之间的转换关系,所述校准系数对所述待校准传感器检测的电容值进行校准。
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