[发明专利]一种基于FPGA的高精度时间间隔测量方法及系统在审
| 申请号： | 201910661291.1 | 申请日： | 2019-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN110442012A | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 蔡成林;李响;贾伟;汪发;胡佳;沈文波;曾武陵;彭滨;刘元成 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学 |
| 主分类号： | G04F10/04 | 分类号： | G04F10/04 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 徐琪琦 |
| 地址： | 541004 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于FPGA的高精度时间间隔测量方法，包括如下步骤，采用脉冲填充计数法进行两个脉冲间的时间间隔的粗测量，得到时间间隔的粗测结果；基于FPGA抽头延时链对小于一个时钟周期的相位差进行细测量，得到时间间隔的细测结果；根据所述粗测结果和所述细测结果确定所述时间间隔的最终测量结果。本发明通过将粗测量和精测量相结合，利用FPGA延迟单元几十皮秒级的高精度时延间隔，使得能够对大范围的时间间隔进行测量，并且取得较高的测量精度。本发明还包括一种基于FPGA的高精度时间间隔测量系统。 | ||
| 搜索关键词： | 时间间隔测量 测量 粗测量 粗测 抽头延时 结果确定 脉冲填充 时延间隔 时钟周期 延迟单元 计数法 相位差 脉冲 | ||
【主权项】：
1.一种基于FPGA的高精度时间间隔测量方法，其特征在于，包括如下实施步骤：采用脉冲填充计数法进行两个脉冲间的时间间隔的粗测量，得到时间间隔的粗测结果；基于FPGA抽头延时链对小于一个时钟周期的相位差进行细测量，得到时间间隔的细测结果；根据所述粗测结果和所述细测结果确定所述时间间隔的最终测量结果。
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