[发明专利]位置度角度公差检具在审
申请号: | 201910667473.X | 申请日: | 2019-07-23 |
公开(公告)号: | CN112304182A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 吴晓峰;齐旺明;印仁军 | 申请(专利权)人: | 上海天纳克排气系统有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00;G01B5/24 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 杨林洁 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种位置度角度公差检具,其包括固定基座、安装在所述固定基座上的滑动测量块、用以驱动所述滑动测量块移动的驱动部以及用以将所述滑动测量块进行锁定的锁定机构,其中所述滑动测量块包括用于检测待检测物件的位置度公差的刻度以及用于检测待检测物件的角度公差的刻度。相较于现有技术,本发明能够对检测待检测物件的位置度公差以及角度公差同时进行测量,提高了效率。 | ||
搜索关键词: | 位置 角度 公差 | ||
【主权项】:
暂无信息
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