[发明专利]柔性薄膜电容容值测试系统及方法在审
| 申请号： | 201910685030.3 | 申请日： | 2019-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN110441612A | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 李峰;卢星华;陶玉红;杨柳;李露 | 申请（专利权）人： | 深圳市峰泳科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人： | 周景 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种柔性薄膜电容容值测试系统，包括测量座、容值测量模块、FPGA控制模块和显示模块：测量座用于承载多个待测柔性薄膜电容，测量座上设有多组与各所述电容第一电极、第二电极接触的探针，各探针分别与容值测量模块电性连接；容值测量模块用于测量各电容的信号参数；FPGA控制模块分别与容值测量模块、显示模块电性连接，FPGA控制模块用于控制、处理所述容值测量模块测出的信号参数以及驱动显示模块显示电容容值和各电容位于测量座上的位置。本发明的柔性薄膜电容容值测试系统可一次性测量多个电容的容值，测量速度快，成本低。本发明还涉及一种柔性薄膜电容容值测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 测量模块 柔性薄膜 测量座 测试系统 电性连接 显示模块 信号参数 探针 测量 一次性测量 第二电极 第一电极 多个电容 模块显示 驱动显示 承载 测试 | ||
【主权项】：
1.一种柔性薄膜电容容值测试系统，其特征在于，包括测量座、容值测量模块、FPGA控制模块和显示模块：所述测量座用于承载多个待测柔性薄膜电容，所述测量座上设有多组与各所述电容第一电极、第二电极接触的探针，各所述探针分别与所述容值测量模块电性连接；所述容值测量模块用于测量各所述电容的信号参数；所述FPGA控制模块分别与所述容值测量模块、所述显示模块电性连接，所述FPGA控制模块用于控制、处理所述容值测量模块测出的信号参数以及驱动所述显示模块显示电容容值和各所述电容位于所述测量座上的位置。
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