[发明专利]存储设备写错误纠错能力的测试方法、系统及存储介质在审
| 申请号： | 201910701427.7 | 申请日： | 2019-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN110459259A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 董智敏 | 申请（专利权）人： | 至誉科技(武汉)有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/14 | 分类号： | G11C29/14;G11C29/12 |
| 代理公司： | 42225 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 沈林华<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 430223湖北省武汉市武汉东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了存储设备写错误纠错能力的测试方法、系统及存储介质，其中测试方法包括：挑选空白或是被擦除数据的闪存块，并在挑选的闪存块的数据页中写入数据；读取写入数据的闪存块的所有数据页上的数据并保存在缓存中，然后擦除该闪存块中的数据；对被擦除的数据块的数据页进行再写入操作；对被再次写入数据的数据块的数据页进行检验，根据报错的数据位的数量大小与写入数据的数据位的数量大小进行对比得到第一对比结果，以及报错的数据块的地址、数据页的地址与写入数据的数据位对应的数据块的地址、数据页的地址进行对比得到第二对比结果，上述第一、二对比结果即为该存储设备的写错误纠错能力的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 数据页 写入数据 闪存块 数据块 对比结果 存储设备 纠错能力 报错 擦除 读取 缓存 测试 擦除数据 存储介质 写入操作 保存 检验 | ||
【主权项】：
1.一种存储设备写错误纠错能力的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS0、挑选空白或是被擦除数据的闪存块，并在挑选的闪存块中的数据页中写入数据；/nS1、读取写入数据的闪存块上的所有数据页上的数据并保存在缓存中，然后擦除该闪存块中的数据；/nS2、对被擦除数据的闪存块的数据页进行再写入操作；/nS3、对被再次写入数据的数据块的数据页进行检验，根据报错的数据位的数量大小与所述步骤S0中写入数据的数据位的数量大小进行对比，得到第一对比结果，并将所述第一对比结果写入测试结果。/n
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