[发明专利]一种基于二次曝光的背光板检测方法及系统有效
| 申请号： | 201910702722.4 | 申请日： | 2019-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN110428411B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 吴奇峰;陈武;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/194;G01N21/88 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种基于二次曝光的背光板检测方法及系统，对背光板第一次曝光正常取像得到第一图像；提升相机曝光时间后进行二次曝光对该背光板再次取像得到第二图像，将第一图像的中心区域与第二图像的边缘区域合并，将合并得到的图像作为缺陷检测图像用于背光板缺陷检测；这种方法可以有效解决背光检测图像周边灰阶较暗问题，使得用于缺陷检测的图像整体均匀性提升，在此基础上进一步通过简单参数卡控即可实现图像缺陷区域的整体分割，将该方法及系统用于AOI检测，不需要对面板划分区域分别设定参数进行分析，可极大提高检测效率，而且参数更易于维护，也可提高调参的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 二次 曝光 背光板 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于二次曝光的背光板检测方法，其特征在于，对背光板第一次曝光正常取像得到第一图像；提升曝光时间后进行二次曝光对所述背光板再次取像得到第二图像；将第一图像的中心区域与第二图像的边缘区域合并，将合并得到的图像作为缺陷检测图像，通过设定的阈值分割参数将所述缺陷检测图像中符合分割条件的缺陷区域分割出来，检测出背光板缺陷。
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