[发明专利]存储元件测试电路及存储元件测试方法在审
| 申请号： | 201910703354.5 | 申请日： | 2019-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN112309482A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 林盛霖;林士杰 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 王红艳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露了存储元件测试电路及存储元件测试方法。存储元件测试电路用来测试一存储元件，包括一储存电路、一比较电路及一控制电路。该储存电路储存一测试数据。该比较电路耦接该储存电路。该控制电路耦接该储存电路、该比较电路及该存储元件，用来执行以下步骤以测试该存储元件：将该测试数据写入该存储元件；控制该存储元件进入一低功耗模式；控制该存储元件进入一功能模式；以及控制该比较电路比较该存储元件的一输出数据与该测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 元件 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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