[发明专利]一种变频晶体点位的控制方法及变频晶体的换点方法有效

专利信息
申请号: 201910703709.0 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110445006B 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 丁闯;邹志鹏;沈瑶;蒋峰 申请(专利权)人: 苏州创鑫激光科技有限公司;深圳市创鑫激光股份有限公司
主分类号: H01S3/108 分类号: H01S3/108;G02F2/02
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 215152 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明实施例提供了一种变频晶体点位的控制方法及变频晶体的换点方法,属于激光技术领域。基于变频晶体横截面所在平面建立平面坐标系;在平面坐标系中记录初始相位点的坐标,其中,初始相位点为变频晶体横截面上的起始工作点;控制变频晶体从初始相位点移动至目标相位点,其中,目标相位点为激光光斑在平面坐标系中的位置坐标;以目标相位点的坐标为基准坐标对变频晶体的点位进行控制。这样,在进行点位控制时均以目标相位点为基准,可以准确进行点位控制,进而可以避免变频晶体因点位控制的不准确而发生损坏,使得变频晶体的可使用点位进一步增多,可减少变频晶体的工作点位浪费,从而使得变频晶体可以长期运行。
搜索关键词: 一种 变频 晶体 控制 方法
【主权项】:
1.一种变频晶体点位的控制方法,其特征在于,包括:基于所述变频晶体横截面所在平面建立平面坐标系;在所述平面坐标系中记录初始相位点的坐标,其中,所述初始相位点为所述变频晶体横截面上的起始工作点;控制所述变频晶体从所述初始相位点移动至目标相位点,其中,所述目标相位点为激光光斑在所述平面坐标系中的位置坐标;以所述目标相位点的坐标为基准坐标对所述变频晶体的点位进行控制。
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