[发明专利]基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法及系统

摘要

本发明提供一种基于时域核磁共振的高分子材料聚集态分析方法及系统，该方法包括：S1、获取高分子材料样品的核磁共振T2谱，所述高分子材料样品的核磁共振T2谱是在时域核磁共振仪上采用固体回波序列测量得出的；S2、获取所述核磁共振T2谱的分解谱图，并记录所述分解图谱中的峰个数、峰位置或峰面积中的至少一项；S3、通过所述峰个数表征所述高分子材料样品的相组成；通过所述峰位置表征所述高分子材料样品的相区内分子运动性；或通过所述峰面积的占比用表征所述高分子材料样品的相区大小。本发明能简单快速定量测试高分子材料聚集态结构，对高分子材料研究和应用都有着十分重要的意义。