[发明专利]电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统在审
| 申请号： | 201910722620.9 | 申请日： | 2019-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN110488118A | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 贺耀辅 | 申请（专利权）人： | 上海移为通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 31270 上海翰信知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张维东<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 200233 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电源芯片的抗干扰性测试方法及其系统，通过向电源芯片提供一电压稳定的电源,使电源芯片在电源下正常工作，并测量电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；提供一射频模块，使射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将射频模块靠近电源芯片，测量射频模块靠近电源芯片过程中电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；根据电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定电源芯片的抗干扰性，本发明测试方法简单，能够评估电源芯片的抗干扰性且不会增加成本。 | ||
| 搜索关键词： | 电源芯片 电压波形曲线 射频模块 输出电压 电源 最大额定功率 测试 测量电源 测量射频 电压稳定 预设频率 芯片 评估 | ||
【主权项】：
1.一种电源芯片的抗干扰性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/n向电源芯片提供一电压稳定的电源,使所述电源芯片在所述电源下正常工作，并测量所述电源芯片的输出电压的第一电压波形曲线；/n提供一射频模块，使所述射频模块在预设频率以及其最大额定功率下工作，并将所述射频模块靠近所述电源芯片，测量所述射频模块靠近所述电源芯片过程中所述电源芯片的输出电压的第二电压波形曲线；/n根据所述电源芯片的第一电压波形曲线和第二电压波形曲线，确定所述电源芯片的抗干扰性。/n
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