[发明专利]一种集成电路测试系统及其面向列的数据库管理系统在审
| 申请号： | 201910729258.8 | 申请日： | 2019-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN110532263A | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 蓝帆 | 申请（专利权）人： | 杭州广立微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/22 | 分类号： | G06F16/22;G06F16/21;G06F16/2457;G01R31/28 |
| 代理公司： | 33214 杭州丰禾专利事务所有限公司 | 代理人： | 王静<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 310012 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的主要目的在于克服现有技术中的不足，提供一种能实现数据高效实时存储和快速查询的数据库管理系统。为解决上述技术问题，本发明的解决方案是：提供一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐列存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；所述用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统设置有消息队列，消息队列能处理数据写入请求，以暂存测试流数据，消息队列还能处理数据库的数据读取请求，实现测试流数据批量存入数据库。 | ||
| 搜索关键词： | 数据库管理系统 消息队列 测试流 集成电路测试 数据库 二维表 数据读取请求 测试记录 处理数据 快速查询 实时存储 写入请求 列存储 暂存 字段 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统，数据库用于以二维表形式逐列存储测试流数据，二维表形式是指：每一行为一条测试记录，每一列为一个字段；其特征在于，所述用于集成电路测试领域面向列的数据库管理系统设置有消息队列，消息队列能处理数据写入请求，以暂存测试流数据，消息队列还能处理数据库的数据读取请求，实现测试流数据批量存入数据库。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州广立微电子有限公司，未经杭州广立微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910729258.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
