[发明专利]半导体封装件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201910730049.5 申请日: 2019-08-08
公开(公告)号: CN110828447A 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 金孝恩;金知晃;杨志善;延承勋;赵汊济;韩相旭 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/31;H01L21/56;H01L21/60;H01L23/488;H01L23/482
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;张帆
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开提供了半导体封装件及其制造方法。一种半导体封装件,包括:第一半导体芯片;第二半导体芯片,其位于第一半导体芯片上;第一半导体结构和第二半导体结构,其位于第一半导体芯片上并且在第二半导体芯片上彼此间隔开;以及含树脂构件,其插入在第二半导体芯片和第一半导体结构之间,并插入在第二半导体芯片和第二半导体结构之间。半导体封装件可以在晶片级制造。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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