[发明专利]一种四丁基脲中硫、氯含量的检测方法在审
| 申请号： | 201910732886.1 | 申请日： | 2019-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN110455842A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 潘伟中;朱晶晶;冯晓梅 | 申请（专利权）人： | 湖州吉昌化学有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 11385 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 | 代理人： | 董芙蓉<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 313000浙江省湖*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种四丁基脲中硫、氯含量的检测方法，本发明的四丁基脲中硫、氯含量的检测方法，其检测原理是样品受X射线照射后，样品中待测元素中的原子内壳层电子被激发，并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线，通过探测器测量元素特征X射线的波长（能量)的强度与浓度的比例关系，进行定量分析。本发明采用单波长X射线荧光光谱仪，其利用双曲面变晶技术，使得被检测元素具有高选择性和高灵敏度，具有检测时间短（检测时间为60~300秒），检测操作简单，检测数据稳定性好、准确度高（标准偏差：≤0.5ppm(检测范围1~5ppm)，≤2.5ppm(检测范围1~50ppm)，检测成本低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 四丁基脲 双曲面 探测器测量 定量分析 特征X射线 高灵敏度 高选择性 检测操作 检测数据 壳层电子 元素特征 准确度 单波长 内壳层 波长 跃迁 发射 激发 | ||
【主权项】：
1.一种四丁基脲中硫、氯含量的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n1）、安装要求：将稳压电源、氢气发生器、单波长X射线荧光光谱仪、检测终端，放置固定的实验台上，并按照要求连接起来，得到四丁基脲中硫、氯含量的检测系统；/n2）、建立标准曲线：选择5~7个标样点，建立标准曲线；当曲线R2显示的线性大于0.999时，该曲线符合检测标准；/n3）、检测样品的准备处理：采用液体进样检测方式，使样品能均匀平铺样品杯中；/n4）、具体检测方式：取样并放入样品杯中进行测试；同一样品正常检测三次，检测数据符合正常偏差的，取其平均值；标准偏差：≤0.5ppm(检测范围1~5ppm)，≤2.5ppm(检测范围1~50ppm)，如不符合的，应该重新取样检测，确保样品检测数据的代表性和稳定性。/n
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