[发明专利]一种成品芯片测试用高压加速老化试验机及其使用方法

摘要

本发明公开了一种成品芯片测试用高压加速老化试验机及其使用方法，该试验机包括上机体，所述上机体的前表面活动安装有压力门，所述压力门的后表面固定安装有两个竖直方向放置的密封圈，所述上机体的上表面中部固定安装有压力阀，所述上机体的底端内壁固定安装有支撑架，所述支撑架的上端固定安装有柱体形状的压力箱，所述压力箱的圆弧侧面与密封圈一一对应的位置开设有圆孔，所述压力箱的圆弧内壁与圆孔相对齐的位置固定安装有夹持机构。本发明中，通过设置的夹持机构，方便操作人员夹持待测试的芯片，可根据芯片的大小来调节夹持机构的夹持宽度，通过设置的压力阀，能够精准控制气压的排放，提高操作过程中的安全性。

主权项

1.一种成品芯片测试用高压加速老化试验机，其特征在于，包括上机体(1)，所述上机体(1)的前表面活动安装有压力门(2)，所述压力门(2)的后表面固定安装有两个竖直方向放置的密封圈(5)，所述上机体(1)的上表面中部固定安装有压力阀(4)，所述上机体(1)的底端内壁固定安装有支撑架(14)，所述支撑架(14)的上端固定安装有柱体形状的压力箱(8)，所述压力箱(8)的圆弧侧面与密封圈(5)一一对应的位置开设有圆孔(12)，所述压力箱(8)的圆弧内壁与圆孔(12)相对齐的位置固定安装有夹持机构(13)；所述压力阀(4)包括阀体(42)，所述阀体(42)的内部螺接有阀杆(44)，所述阀杆(44)远离阀体(42)的一端固定安装有手轮(41)，所述阀体(42)的圆弧侧面靠近后端的位置开设有通孔(45)，所述阀体(42)的圆弧侧面靠近前端的上下位置均开设有出气口(43)，所述阀杆(44)的圆弧侧面靠近固定安装有与阀体(42)螺接的阀杆螺母(47)，所述阀杆(44)的圆弧侧面靠近阀杆螺母(47)的一侧固定安装有填料压帽(48)，所述阀杆(44)的圆弧侧面靠近另一端的位置固定安装有阀瓣紧丝圈(412)，所述阀杆(44)的圆弧侧面活动安装有与阀瓣紧丝圈(412)螺接的阀瓣座(410)，所述阀瓣座(410)圆弧侧面的四分之一为开口，所述阀杆(44)的另一端固定安装有与阀瓣座(410)契合的阀瓣(413)，所述阀瓣座(410)的圆弧侧面固定安装有与阀体(42)内壁连接的阀套(411)，所述阀套(411)的一侧表面固定安装有密封环(49)，所述阀体(42)的前端固定安装有盲板(46)；所述夹持机构(13)包括支板(133)，所述支板(133)的上表面中部开设有滑轨(139)，所述支板(133)的上表面靠近后端的位置固定安装有杆座(132)，所述杆座(132)的后表面固定安装有电动缸(131)，所述电动缸(131)的输出轴固定安装有贯穿杆座(132)的丝杆(1310)，所述丝杆(1310)远离电动缸(131)的一端固定安装有与滑轨(139)契合的导向板(134)，所述导向板(134)的左右侧面均固定安装有齿条(1311)，所述支板(133)的上表面位于导向板(134)的两侧均轴接有齿轮(135)，所述齿轮(135)的上表面转动安装有第一连接板(136)，所述导向板(134)的上表面靠近齿轮(135)的前方转动安装有第二连接板(137)，所述导向板(134)的左右两侧通过第一连接板(136)与第二连接板(137)均活动安装有支撑臂(138)，所述支撑臂(138)的下表面固定安装有夹杆(1312)。