[发明专利]一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置

摘要

本发明公开了一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，包括工作台，所述工作台为箱式结构，且在工作台的内部设置有控制箱，所述工作台的台面一侧设置有液晶显示屏和声光报警器，且在工作台的台面中间位置固定架设有测试箱，所述测试箱的左右两侧均开设有供载物板穿过的矩形通道，通过在载物板上设置四个完全一致的芯片放置盘，将待检测的芯片放置在芯片放置盘上，当载物板传送到测试箱的内部时，根据载物板上芯片的位置调整十字测试板的位置，从而使十字测试板每个边角上的检测探针完成对芯片的检测，从而实现一次测试完成对四个芯片的同步检测，提高了芯片的测试效率，通过检测探针自动检测，降低了检测人员的工作强度。

主权项

1.一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，其特征在于：包括工作台(1)，所述工作台(1)为箱式结构，且在工作台(1)的内部设置有控制箱(103)，所述工作台(1)的台面一侧设置有液晶显示屏(108)和声光报警器(109)，且在工作台(1)的台面中间位置固定架设有测试箱(3)，所述测试箱(3)的左右两侧均开设有供载物板(204)穿过的矩形通道(310)；/n所述工作台(1)外部右侧面上通过电机安装座设置有转动电机(2)，所述转动电机(2)的输出端连接减速器的输入端，减速器的输出端固定连接有螺杆(208)，所述螺杆(208)水平架设在工作台(1)的箱体内部，且螺杆(208)的另一端转动连接在所述工作台(1)内部另一侧面的转动轴承上，所述螺杆(208)上通过螺纹连接有螺母座(210)，所述螺母座(210)的表面上通过焊接竖直设置有连接板(209)，所述工作台(1)的台面在水平方向开设有供连接板(209)穿过的条形槽(203)，所述条形槽(203)两侧的工作台(1)的台面沿水平方向分别设置有导向板一(201)和导向板二(202)，所述导向板一(201)与导向板二(202)关于条形槽(203)在水平方向上的轴线对称，且在导向板一(201)与导向板二(202)相对的侧面沿水平方向均开设有T型槽(211)，所述连接板(209)贯穿条形槽(203)的顶部与载物板(204)的底面焊接连接，所述载物板(204)纵向两侧的侧面上设置有与导向板一(201)和导向板二(202)T型槽(211)相适配的T型块(212)，所述载物板(204)通过两侧的T型块(212)滑动连接在导向板一(201)和导向板二(202)的T型槽(211)内，所述载物板(204)的表面等分隔成四个区域，且在载物板(204)的每个独立区域内均设置有芯片放置盘(205)，所述芯片放置盘(205)上设置有芯片；/n所述测试箱(3)包括X向导轨(301)、Y向导轨(302)和Z向导轨(303)，所述X向导轨(301)通过X向驱动机构进行驱动，且在X向导轨(301)上滑动连接有X向固定块(309)，所述X向固定块(309)在横向上固定设置有Y向导轨(302)，所述Y向导轨(302)通过Y向驱动机构进行驱动，且在Y向导轨(302)上滑动连接有Y向固定块(304)，所述Y向固定块(304)在纵向上竖直设置有Z向导轨(303)，所述Z向导轨(303)通过Z向驱动机构进行驱动，所述Z型导轨(303)上滑动连接有竖直板(305)，所述竖直板(305)底面一侧焊接设置有固定板(306)，所述固定板(306)的板面在竖直方向上开设有若干个螺纹通孔，所述固定板(306)上的螺纹通孔经锁紧螺钉固定连接有呈十字结构的十字测试板(307)，且在十字测试板(307)四个边角的底面上分别设置有检测探针(308)。/n