[发明专利]性能分析方法与系统、电子设备与存储介质有效
| 申请号： | 201910755835.0 | 申请日： | 2019-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN110618933B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 吴帅;安光霖;徐建;章建荣;粟超;杨超;梁树为 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 荣甜甜;刘芳 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种性能分析方法与系统、电子设备与存储介质，该方法利用探测代码对目标程序进行采样得到事件信息，并利用PMU对目标程序进行Simpleperf采样，得到栈信息，从而，获取所述第一采样数据与所述第二采样数据之间的时间映射关系，基于该时间映射关系，能够实现事件信息与所述栈信息之间的关联和对应，从而，由此，生成目标程序的性能图，该性能图既可用于表征目标程序中，事件对应的调用栈的信息，也能够表征各栈的耗时时长，为用户提供了衡量目标程序性能的时间与空间信息，开发人员基于该性能图，能够清楚的确定目标程序在运行过程中，一个事件对应调用了什么栈(函数)，调用了多长时间，能够辅助开发人员快速定位软件问题、优化软件性能。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 分析 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种性能分析方法，其特征在于，包括：/n获取目标程序的第一采样数据与第二采样数据，所述第一采样数据是通过所述目标程序中插入的探测代码采集得到的事件信息，所述第二采样数据是通过性能监控单元PMU采集得到的栈信息；/n获取所述第一采样数据与所述第二采样数据之间的时间映射关系，所述时间映射关系用于关联所述事件信息与所述栈信息；/n生成所述目标程序的性能图，所述性能图的纵轴表示事件所对应的栈信息，横轴表示栈对应的时间长度。/n
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