[发明专利]噪声系数的测量方法、装置、设备和存储介质有效
申请号: | 201910765283.1 | 申请日: | 2019-08-19 |
公开(公告)号: | CN110441621B | 公开(公告)日: | 2022-02-22 |
发明(设计)人: | 黄磊 | 申请(专利权)人: | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/26 | 分类号: | G01R29/26 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种噪声系数的测量方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括:确定目标测量通道,所述目标测量通道为待测器件连接的测量通道;获取所述目标测量通道中配置的表面贴装噪声源的目标表贴超噪比;以所述表面贴装噪声源为信号源,基于所述目标表贴超噪比确定所述待测器件的第一噪声系数。本发明实施例通过采用上述技术方案,可以降低待测器件的测试成本,实现待测器件的大规模测试。 | ||
搜索关键词: | 噪声系数 测量方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种噪声系数的测量方法,其特征在于,包括:确定目标测量通道,所述目标测量通道为待测器件连接的测量通道;获取所述目标测量通道中配置的表面贴装噪声源的目标表贴超噪比;以所述表面贴装噪声源为信号源,基于所述目标表贴超噪比确定所述待测器件的第一噪声系数。
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