[发明专利]一种机床测头自动测量设定工件平面的方法有效

专利信息
申请号: 201910775964.6 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN110531699B 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 周良明;康志文;李维亮;贺珣;曹克江 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: G05B19/401 分类号: G05B19/401
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 苏丹
地址: 610092*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 本申请属于数控加工领域,具体而言是一种机床测头自动测量设定工件平面的方法,其括如下步骤:步骤一、数控系统的基础测量程序的选择;步骤二、测量参数的选择和分配;步骤三、测量程序结构设计;步骤四、测量所需的测头运动轨迹的参数设计;步骤五、测量数值的比较判断。本申请根据实际加工中所需的测量操作进行的程序编制优化,该方法通过将测量所需的轨迹编程进行参数化的输入,将复杂繁琐的G代码编程简单化,为普通操作者及编程人员带来便利,提高产品质量及工作效率。
搜索关键词: 一种 机床 自动 测量 设定 工件 平面 方法
【主权项】:
1.一种机床测头自动测量设定工件平面的方法,其特征在于:包括如下步骤:/n步骤一、数控系统的基础测量程序的选择;/n步骤二、测量参数的选择和分配;/n步骤三、测量程序结构设计;/n步骤四、测量所需的测头运动轨迹的参数设计;/n步骤五、测量数值的比较判断;/n所述步骤二具体为:选择控制测量点运动的参数;/n具体选择至少如下10个变量参数:/nUNDERSIDE:零件是否为底面对刀;/nOFFSET_NO:零件加工的原点地址号;/nPART_H:零件的总厚度;/nTOLERANCE:测量的公差;/nAXIS_X1:测量点1的X坐标;/nAXIS_Y1:测量点1的Y坐标;/nAXIS_X2:测量点2的X坐标;/nAXIS_Y2:测量点2的Y坐标;/nAXIS_X3:测量点3的X坐标;/nAXIS_Y3:测量点3的Y坐标;/n上述10个参数中的第一个为布尔值,其余9个参数为实数。/n
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