[发明专利]一种存储器装置以及用于感测存储器单元的逻辑状态的方法有效
申请号: | 201910785995.X | 申请日: | 2019-08-23 |
公开(公告)号: | CN110858497B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 池育德;李嘉富;史毅骏;林弘璋;林谷峰 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 龚诗靖 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明实施例涉及一种存储器装置以及用于感测存储器单元的逻辑状态的方法。用于感测存储器装置中的多个段中的存储器单元的逻辑状态的方法,每一单元具有高电阻状态和低电阻状态,从而产生针对不同电阻状态的不同单元电流电平。所述方法包含确定相应段的目标参考电流电平,所述目标参考电流电平中的至少两个彼此不同;用每一段的所述目标参考电流电平产生所述段的参考电流;将每一单元的所述单元电流电平与所述单元所处的所述段的所述参考电流电平进行比较;和基于所述比较,确定所述存储器单元的所述逻辑状态。 | ||
搜索关键词: | 一种 存储器 装置 以及 用于 单元 逻辑 状态 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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