[发明专利]一种半导体芯片制造用蚀刻装置及其使用方法在审
申请号: | 201910799299.4 | 申请日: | 2019-08-28 |
公开(公告)号: | CN110416133A | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 李建林;张永;武文扬 | 申请(专利权)人: | 南京信息职业技术学院 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 俞翠华 |
地址: | 210023 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体芯片制造用蚀刻装置及其使用方法,包括支撑机构、运输机构、印刷机构、供气机构和反应机构;运输机构与所述支撑机构相连,用于驱动待刻蚀电路板沿着预设的轨迹运动;所述印刷机构、供气机构和反应机构顺次设置,三者均设于所述运输机构的上方,所述供气机构的输出端与所述反应机构的输入端相连,当电路板运动至反应机构下方时,供气机构向反应机构提供高压气体,所述反应机构向电路板吹气。本发明利用运输机构带动电路板沿着预设轨迹运动,首先利用印刷机构对电路板进行印刷,然后利用供气机构为反应机构提供高压气体,当电路板运动至反应机构处时,利用高压气体对电路板进行清洁,避免了反应液的过渡蚀刻,大大提高了良品率。 | ||
搜索关键词: | 反应机构 电路板 供气机构 运输机构 高压气体 印刷机构 半导体芯片制造 轨迹运动 蚀刻装置 支撑机构 预设 蚀刻 刻蚀电路板 良品率 输出端 输入端 吹气 清洁 驱动 印刷 | ||
【主权项】:
1.一种半导体芯片制造用蚀刻装置,其特征在于:包括支撑机构、运输机构、印刷机构、供气机构和反应机构;所述运输机构与所述支撑机构相连,用于驱动待刻蚀电路板沿着预设的轨迹运动;所述印刷机构、供气机构和反应机构顺次设置,三者均设于所述运输机构的上方,所述供气机构的输出端与所述反应机构的输入端相连,当电路板运动至反应机构下方时,所述供气机构向反应机构提供高压气体,所述反应机构向电路板吹气。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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