[发明专利]半导体封装件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201910806045.0 申请日: 2019-08-29
公开(公告)号: CN110911427A 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 张在权;李锡贤;石敬林 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京市立方律师事务所 11330 代理人: 李娜;王占杰
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了半导体封装件及其制造方法。该半导体封装件包括:第一再分布层;位于第一再分布层上的第一半导体芯片;覆盖第一半导体芯片的模制层;围绕第一半导体芯片并连接到第一再分布层的多个金属柱;位于模制层上并连接到所述多个金属柱的第二再分布层;以及位于第二再分布层上的第二半导体芯片。金属柱延伸穿过模制层。当在俯视图中观察时,第二半导体芯片与第一半导体芯片和金属柱交叠。制造半导体封装件的方法从包括多个第一半导体芯片的第一衬底获得晶片图,以及使用晶片图在第一半导体芯片上选择性地堆叠第二半导体芯片。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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