[发明专利]一种多芯片堆叠封装结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201910808521.2 申请日: 2019-08-29
公开(公告)号: CN110634848A 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 李恒甫;曹立强 申请(专利权)人: 上海先方半导体有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L21/98;H01L23/488;H01L23/492;H01L21/50;H01L21/60
代理公司: 11250 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 代理人: 宋傲男
地址: 200131 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种多芯片堆叠封装结构及其制作方法。上述多芯片堆叠封装结构包括:转接板,开设有贯通其正面与背面的硅通孔,所述转接板的背面开设有凹槽;第一芯片,通过第一塑封体封装在所述凹槽内;重布线结构,设置在所述转接板靠近背面的一侧,且分别与所述第一芯片和所述硅通孔电连接;第二芯片,设置在所述转接板靠近正面的一侧,且通过所述硅通孔与所述重布线结构电连接。通过转接板设置的凹糟,使第一芯片与第二芯片处于转接板不同空间位置,故第一芯片和第二芯片的封装总尺寸可以超出转接板尺寸,拓展封装空间;第一芯片无需通过硅通孔与重布线结构连接,降低了封装难度、提升了封装可行性,节约了生产成本及工序,适于大规模加工与生产。
搜索关键词: 转接板 芯片 硅通孔 封装 重布线 多芯片堆叠封装 电连接 封装空间 结构连接 空间位置 塑封体 生产成本 背面 贯通 节约 拓展 制作 加工 生产
【主权项】:
1.一种多芯片堆叠封装结构,其特征在于,包括:/n转接板(1),开设有贯通其正面与背面的硅通孔(2),所述转接板(1)的背面开设有凹槽(3);/n第一芯片(4),通过第一塑封体(5)封装在所述凹槽(3)内;/n重布线结构,设置在所述转接板(1)靠近背面的一侧,且分别与所述第一芯片(4)和所述硅通孔(2)电连接;/n第二芯片(6),设置在所述转接板(1)靠近正面的一侧,且通过所述硅通孔(2)与所述重布线结构电连接。/n
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