[发明专利]测试芯片及电子设备的测试方法有效
| 申请号： | 201910829855.8 | 申请日： | 2019-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN110597677B | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 胡浩 | 申请（专利权）人： | 深圳宝新创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/32 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 张小容 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区沙河*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试芯片，所述测试芯片包括CPLD可编程逻辑器件、数据选择器、第一接口和第二接口，所述CPLD经所述数据选择器与所述第一接口及所述第二接口连接，所述第一接口用于与电子设备的中央控制器连接，所述第二接口用于与所述电子设备的存储器连接；所述CPLD控制所述数据选择器连通所述第二接口，以通过所述第二接口读取所述存储器中的烧录标识，并在根据所述烧录标识判定所述存储器中的基本输入输出系统固件烧录成功时，控制所述数据选择器连通所述第一接口和所述第二接口。本发明还公开了一种电子设备的测试方法，达成了提高电子设备出厂产品的合格率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 芯片 电子设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试芯片，其特征在于，所述测试芯片包括CPLD可编程逻辑器件、数据选择器、第一接口和第二接口，所述CPLD经所述数据选择器与所述第一接口及所述第二接口连接，所述第一接口用于与电子设备的中央控制器连接，所述第二接口用于与所述电子设备的存储器连接；所述CPLD控制所述数据选择器连通所述第二接口，以通过所述第二接口读取所述存储器中的烧录标识，并在根据所述烧录标识判定所述存储器中的基本输入输出系统固件烧录成功时，控制所述数据选择器连通所述第一接口和所述第二接口。/n
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