[发明专利]片材外观缺陷检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910841390.8 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN110579490B 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 黄前跃 申请(专利权)人: 深圳新视智科技术有限公司
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89;G01N21/01
代理公司: 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 代理人: 阎昱辰
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种片材外观缺陷检测装置及方法。所述装置包括至少一个由采集机构和采集辅助机构构成的检测工位、传送机构、以及上位机,所述传送机构用于待检片材的传输;所述采集机构与所述采集辅助机构同轴设置,所述采集辅助机构用于提供与所述待检片材同一平面的照射光源;所述采集机构结合所述采集辅助机构获取与所述待检片材对应的目标检测图像;所述上位机与所述采集机构连接,所述采集机构发送所述目标检测图像至所述上位机;所述上位机用于对根据所述目标检测图像对所述待检片材进行缺陷检测。另外还公开了一种片材外观缺陷检测方法。本发明可提升片材检测的效率和精度。
搜索关键词: 外观 缺陷 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种片材外观缺陷检测装置,其特征在于,所述装置包括至少一个由采集机构和采集辅助机构构成的检测工位、传送机构、以及上位机,所述传送机构用于待检片材的传输;/n所述检测工位设置于所示传送机构的正上方或正下方,所述检测工位用于执行对应所述待检片材的缺陷检测操作;/n所述采集机构与所述采集辅助机构同轴设置,所述采集辅助机构用于提供与所述待检片材同一平面的照射光源;所述采集机构结合所述采集辅助机构获取与所述待检片材对应的目标检测图像;/n所述上位机与所述采集机构连接,所述采集机构发送所述目标检测图像至所述上位机;/n所述上位机用于对根据所述目标检测图像对所述待检片材进行缺陷检测。/n
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