[发明专利]云计算性能测试方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910848570.9 | 申请日： | 2019-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN112463576B | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 张靖 | 申请（专利权）人： | 北京东土科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100041 北京市石景*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种云计算性能测试方法、装置、设备及存储介质。该方法应用于云计算平台，包括：获取与待测项对应的测试用例和待测参数集合；依次将所述待测参数集合中的各待测参数设置为目标参数，并对所述目标参数进行至少两次取值更新；根据所述测试用例，依次对至少两个更新后的待测参数集合进行测试，得到所述目标参数的局部瓶颈值；将各所述待测参数的局部瓶颈值的集合，作为所述待测项的性能瓶颈。本发明实施例的技术方案，实现了自动对云计算平台的应用程序进行性能测试，提高了测试效率和测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 计算 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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