[发明专利]一种薄壁变径锻件超声波检测方法有效
申请号: | 201910865319.3 | 申请日: | 2019-09-12 |
公开(公告)号: | CN110632174B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 陈鑫;杨博威 | 申请(专利权)人: | 上海电气上重铸锻有限公司 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/265 |
代理公司: | 上海乐泓专利代理事务所(普通合伙) 31385 | 代理人: | 张雪 |
地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于产品探伤检测技术领域,尤其涉及一种薄壁变径锻件超声波检测方法,包括:锻件在被加工到半精加工后,对所述锻件的轴向采用第一直探头按第一预设扫查部位进行超声波检测;锻件在被精加工后,对锻件的径向采用第二直探头和斜探头进行超声波检测,其中,所述第二直探头按第二预设扫查部位沿所述锻件的轴向进行检测,所述斜探头按第二预设扫查部位沿所述锻件的周向进行检测。本发明方案通过将对工件的检测分为半加工后的轴向检测以及精加工后的径向检测可以有效避免工件的变径特征对轴向检测的影响,同时径向检测时通过直探头沿工件的轴向扫查以及斜探头沿工件的周向扫查,保证了工件体中各部位均被扫查检测到,提高对工件的检测效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄壁 锻件 超声波 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种薄壁变径锻件超声波检测方法,其特征在于,所述检测方法,包括:/n锻件在被加工到半精加工后,对所述锻件的轴向采用第一直探头按第一预设扫查部位进行超声波检测,所述半精加工是指锻件被加工到圆柱状;/n锻件在被精加工后,对锻件的径向采用第二直探头和斜探头进行超声波检测,所述精加工是指锻件被完全加工成型,其中,所述第二直探头按第二预设扫查部位沿所述锻件的轴向进行检测,所述斜探头按第二预设扫查部位沿所述锻件的周向进行检测,且所述斜探头沿所述锻件的周向分别按正反时针两个方向进行扫查;/n将所述第一直探头、所述第二直探头以及所述斜探头的检测的超声波波形分别与对比试块的检测波形进行对比,以确定锻件体内的缺陷,所述试块包括第一试块、第二试块、第三试块、第四试块、第五试块。/n
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