[发明专利]集成芯片及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201910870363.3 申请日: 2019-09-16
公开(公告)号: CN110957326B 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 黄文铎;李秉澄;施宏霖;刘珀玮;许佑凌;才永轩;林佳盛;杨世匡 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L27/11526;H01L27/11568;H01L27/11573;H01L23/50
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本申请的各个实施例涉及一种集成存储器芯片,包括具有带状单元架构的存储器阵列,该带状单元架构减少了不同带状单元类型的数量并且减小了带状线密度。在一些实施例中,存储器阵列限于三种不同类型的带状单元:源极线/擦除栅极(SLEG)带状单元;控制栅极/字线(CGWL)带状单元;和字线带状单元。少量不同的带状单元类型简化了存储器阵列的设计,并且还简化了相应互连结构的设计。此外,在一些实施例中,三种不同的带状单元类型将字线、擦除栅极和控制栅极电耦合到互连结构的不同金属化层中的相应带状线。通过在不同的金属化层之间铺展带状线,减小了带状线密度。本发明的实施例还涉及集成芯片及其形成方法。
搜索关键词: 集成 芯片 及其 形成 方法
【主权项】:
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