[发明专利]探针及测试装置在审
申请号: | 201910875885.2 | 申请日: | 2019-09-17 |
公开(公告)号: | CN112526178A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 吴俊杰 | 申请(专利权)人: | 吴俊杰 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 周鹤 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种探针及测试装置,用以测试一芯片,其中该探针设置于一测试座的一安装孔中,该探针呈薄片状并以导电材质制成,且包含一基部、一缓冲部及一接触部。该基部是位于该安装孔内且卡合于该测试座上,该缓冲部是位于该安装孔内且由该基部一体向外呈螺旋状延伸,而该接触部是位于该安装孔内并由该缓冲部一体延伸而与该基部互相间隔,且该接触部末端突出于该安装孔外而伸置于测试空间内。该探针一体成型,可以减少阻抗与噪声,并使包含该探针的测试装置降低制造成本并提高组装便利性。 | ||
搜索关键词: | 探针 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吴俊杰,未经吴俊杰许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910875885.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种加氢处理催化剂的制备方法
- 下一篇:一种瑞舒伐他汀钙中间体的制备方法