[发明专利]一种基于钛掺杂五氧化二钒空穴注入层的正型QLED器件有效

专利信息
申请号: 201910891476.1 申请日: 2019-09-20
公开(公告)号: CN110729405B 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 杜祖亮;蒋晓红;马玉婷;田雨 申请(专利权)人: 河南大学
主分类号: H01L51/50 分类号: H01L51/50;H01L51/56
代理公司: 郑州联科专利事务所(普通合伙) 41104 代理人: 付艳丽
地址: 475001*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明属于发光二极管技术领域,具体涉及一种基于钛掺杂五氧化二钒空穴注入层的正置型QLED器件及其制备方法。本发明通过在V2O5中掺杂Ti制备Ti‑V2O5溶液,将Ti‑V2O5溶液旋涂于ITO基片上,形成薄膜层作为正置型QLED器件的空穴注入层,并对掺杂比例、旋涂时的转速以及臭氧时间进行优化,制备得到基于Ti掺杂V2O5空穴注入层的QLED器件,并对所制备的QLED器件性能进行检测。所述QLED器件由于掺杂Ti可以使V2O5的导带位置下移,降低了空穴注入势垒,有利于空穴注入层中空穴的注入,所制备QLED器件的参数中,最大电流效率为52.28 cd/A,EQE为13.35%。
搜索关键词: 一种 基于 掺杂 氧化 空穴 注入 qled 器件
【主权项】:
1.一种基于钛掺杂五氧化二钒空穴注入层的正置型QLED器件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:/n(1)清洗含有透明电极的玻璃基底;/n(2)在透明电极上旋涂空穴注入层,所述空穴注入层为Ti-V
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