[发明专利]Flash器件耐久性能测试方法有效
| 申请号： | 201910898039.2 | 申请日： | 2019-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN110619919B | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 杜宏亮 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种Flash器件耐久性能测试方法，提供待包含有数个存储单元的待测Flash器件，数个存储单元中包含测试条件相同和不同的多个端口，其中测试条件相同的端口连接至同一个脉冲发生单元，测试条件不同的端口分别单独连接一个脉冲发生单元；使得所有脉冲发生单元分别发出N个周期的同步脉冲电压信号，其中Flash器件的一个擦除和写入作为一个周期；对每个周期下擦除和写入状态的阈值电压分别进行测试。本发明将传统测试方法中所有的直流信号全部转化成脉冲信号，并将相同测试条件的端口连接在同一个脉冲发生单元，利用脉冲发生单元发出同步的周期性波形的特性，进行N次的反复擦除和写入。从而节省测试时间，提高生测试效率，降低生产运营成本。 | ||
| 搜索关键词： | flash 器件 耐久 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.Flash器件耐久性能测试方法，其特征在于，该方法至少包括以下步骤：/n步骤一、提供待测试的Flash器件，该Flash器件包含数个存储单元；/n步骤二、所述数个存储单元中包含测试条件相同和不同的多个端口，其中测试条件相同的端口连接至同一个脉冲发生单元，测试条件不同的端口分别单独连接一个脉冲发生单元；/n步骤三、使得步骤二中的所述脉冲发生单元分别发出N个周期的同步脉冲电压信号，其中所述Flash器件的一个擦除和写入作为一个所述周期；/n步骤四、对每个周期下的所述Flash器件的擦除和写入状态的阈值电压分别进行测试。/n
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