[发明专利]基于单色X射线衍射的标定方法在审
| 申请号： | 201910905593.9 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110609048A | 公开（公告）日： | 2019-12-24 |
| 发明（设计）人： | 陈凯;朱文欣;沈昊;寇嘉伟 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 11429 北京中济纬天专利代理有限公司 | 代理人： | 覃婧婵 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于单色X射线衍射的标定方法，方法包括以下步骤：在待测样品上放置多晶粉末；采集来自待测样品的第一衍射信号及多晶粉末的第二衍射信号；基于第二衍射信号标定第一衍射信号。实现同时收集待测样品与标样的信号，不需要重复调整样品位置，能够显著提高精度；能够将标样留于复杂几何的样品表面，对于分析复杂几何样品有极大优势。 | ||
| 搜索关键词： | 衍射信号 待测样品 多晶粉末 复杂几何 标定 标样 单色X射线衍射 样品表面 样品位置 重复调整 采集 分析 | ||
【主权项】：
1.一种基于单色X射线衍射的标定方法，所述方法包括以下步骤：/n第一步骤(S1)中，在待测样品上放置多晶粉末；/n第二步骤(S2)中，采集来自待测样品的第一衍射信号及多晶粉末的第二衍射信号；/n第三步骤(S3)中，基于第二衍射信号标定第一衍射信号。/n
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