[发明专利]半导体激光器寿命预估装置、方法、计算机设备及介质在审
| 申请号： | 201910944258.X | 申请日： | 2019-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN110763435A | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 彭强;朱宝华;李乔青;王瑾;高云峰 | 申请（专利权）人： | 大族激光科技产业集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01K13/00 |
| 代理公司： | 44224 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人： | 李鑫 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及半导体激光器领域，尤其涉及一种半导体激光器寿命预估方法，包括：检测获取不同加速环境下半导体激光器的样本使用寿命；将样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型；基于加速模型以及指定环境的参数获得在指定环境参数下半导体激光器的预期使用寿命。上述半导体激光器的寿命预估方法中，半导体激光器在加速环境下的样本使用寿命大大缩短，因此能够在较短的时间内测试出半导体激光器在加速环境下的样本使用寿命，再利用获得的加速模型，将正常工作环境的参数代入加速模型，就能够获得半导体激光器在正常工作环境下的预期使用寿命，从而实现在较短时间内准确预估出半导体激光器在正常工作环境下的预期使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 加速模型 使用寿命 预期使用寿命 正常工作环境 加速环境 样本 寿命预估 预估 参数获得 环境参数 线性拟合 再利用 测试 检测 | ||
【主权项】：
1.一种半导体激光器寿命预估方法，其特征在于，包括：/n检测获取不同加速环境下半导体激光器的样本使用寿命；/n将所述样本使用寿命进行线性拟合以获得加速模型；/n基于所述加速模型以及指定环境的参数获得在所述指定环境参数下半导体激光器的预期使用寿命。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大族激光科技产业集团股份有限公司，未经大族激光科技产业集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910944258.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
