[发明专利]一次性可编程(OTP)存储器设备和测试OTP存储器设备的方法在审
申请号: | 201910966830.2 | 申请日: | 2019-10-11 |
公开(公告)号: | CN111402946A | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 河旻烈 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C29/18 | 分类号: | G11C29/18;G11C29/44 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李敬文 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了一次性可编程(OTP)存储器设备及测试OTP存储器设备的方法,OTP存储器设备包括:包括OTP单元阵列和虚设单元块的单元阵列电路,OTP单元阵列包括耦合到位线、读取字线和电压字线的OTP存储单元,并且所述虚设单元块耦合到读取字线和电压字线;行解码器,通过读取字线和电压字线耦合到虚设单元块和OTP单元阵列;通过位线耦合到OTP单元阵列的列解码器;耦合到列解码器的写入感测电路;以及基于命令和地址控制单元阵列电路、行解码器和写入感测电路的控制电路,单元阵列电路还包括隔离电路,隔离电路响应于测试模式下的控制代码,切断从行解码器传输到OTP单元阵列的第一和第二电压。 | ||
搜索关键词: | 一次性 可编程 otp 存储器 设备 测试 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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