[发明专利]用于定位缺陷的方法和装置在审
申请号: | 201910967953.8 | 申请日: | 2019-10-12 |
公开(公告)号: | CN110704449A | 公开(公告)日: | 2020-01-17 |
发明(设计)人: | 许铭;解鑫 | 申请(专利权)人: | 北京百度网讯科技有限公司 |
主分类号: | G06F16/22 | 分类号: | G06F16/22;G06F16/2458;G06Q10/06 |
代理公司: | 11204 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王达佐;马晓亚 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请实施例公开了用于定位缺陷的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括:获取缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构,其中,多个合格产品与缺陷产品型号相同,树结构用于记录产品的生产过程;基于缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构,计算缺陷产品与多个合格产品的相似度;基于所计算出的相似度,从多个合格产品的树结构中选取至少一个合格产品的树结构;基于缺陷产品的树结构和至少一个合格产品的树结构,计算缺陷产品与至少一个合格产品的差异;基于所计算出的差异,定位缺陷产品的缺陷。该实施方式涉及云计算领域,提供了一种有效的缺陷定位方式。 | ||
搜索关键词: | 树结构 合格产品 缺陷产品 定位缺陷 相似度 缺陷定位方式 方法和装置 生产过程 云计算 记录 申请 | ||
【主权项】:
1.一种用于定位缺陷的方法,包括:/n获取缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构,其中,所述多个合格产品与所述缺陷产品型号相同,所述树结构用于记录产品的生产过程;/n基于所述缺陷产品的树结构和所述多个合格产品的树结构,计算所述缺陷产品与所述多个合格产品的相似度;/n基于所计算出的相似度,从所述多个合格产品的树结构中选取至少一个合格产品的树结构;/n基于所述缺陷产品的树结构和所述至少一个合格产品的树结构,计算所述缺陷产品与所述至少一个合格产品的差异;/n基于所计算出的差异,定位所述缺陷产品的缺陷。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京百度网讯科技有限公司,未经北京百度网讯科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910967953.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。