[发明专利]用于定位缺陷的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201910967953.8 申请日: 2019-10-12
公开(公告)号: CN110704449A 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 许铭;解鑫 申请(专利权)人: 北京百度网讯科技有限公司
主分类号: G06F16/22 分类号: G06F16/22;G06F16/2458;G06Q10/06
代理公司: 11204 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 代理人: 王达佐;马晓亚
地址: 100085 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例公开了用于定位缺陷的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括:获取缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构,其中,多个合格产品与缺陷产品型号相同,树结构用于记录产品的生产过程;基于缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构,计算缺陷产品与多个合格产品的相似度;基于所计算出的相似度,从多个合格产品的树结构中选取至少一个合格产品的树结构;基于缺陷产品的树结构和至少一个合格产品的树结构,计算缺陷产品与至少一个合格产品的差异;基于所计算出的差异,定位缺陷产品的缺陷。该实施方式涉及云计算领域,提供了一种有效的缺陷定位方式。
搜索关键词: 树结构 合格产品 缺陷产品 定位缺陷 相似度 缺陷定位方式 方法和装置 生产过程 云计算 记录 申请
【主权项】:
1.一种用于定位缺陷的方法,包括:/n获取缺陷产品的树结构和多个合格产品的树结构,其中,所述多个合格产品与所述缺陷产品型号相同,所述树结构用于记录产品的生产过程;/n基于所述缺陷产品的树结构和所述多个合格产品的树结构,计算所述缺陷产品与所述多个合格产品的相似度;/n基于所计算出的相似度,从所述多个合格产品的树结构中选取至少一个合格产品的树结构;/n基于所述缺陷产品的树结构和所述至少一个合格产品的树结构,计算所述缺陷产品与所述至少一个合格产品的差异;/n基于所计算出的差异,定位所述缺陷产品的缺陷。/n
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