[发明专利]一种设备测试方法、系统、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201910968655.0 | 申请日： | 2019-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN110727552A | 公开（公告）日： | 2020-01-24 |
| 发明（设计）人： | 刘均;赵涛;张秋菊 | 申请（专利权）人： | 深圳市元征科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 44285 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 常忠良 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种设备测试方法，所述方法包括向目标设备发送测试指令，以便所述目标设备控制功能模块执行所述测试指令对应的测试操作得到功能测试结果；判断是否接收到所有所述功能模块的功能测试结果；若是，则根据所有所述功能测试结果生成第一设备检测结果；当测试时长大于标准时长时，根据已接收到的功能测试结果生成第二设备检测结果；其中，所述测试时长为当前时刻与发送所述测试指令的时刻之间的时间长度，本申请能够提高设备检测的效率。本申请还公开了一种设备测试系统、一种存储介质及一种电子设备，具有以上有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 功能测试结果 测试指令 设备检测 测试时长 目标设备 申请 控制功能模块 设备测试系统 发送 标准时长 测试操作 存储介质 电子设备 设备测试 | ||
【主权项】：
1.一种设备测试方法，其特征在于，包括：/n向目标设备发送测试指令，以便所述目标设备控制功能模块执行所述测试指令对应的测试操作得到功能测试结果；/n判断是否接收到所有所述功能模块的功能测试结果；/n若是，则根据所有所述功能测试结果生成第一设备检测结果；/n当测试时长大于标准时长时，根据已接收到的功能测试结果生成第二设备检测结果；其中，所述测试时长为当前时刻与发送所述测试指令的时刻之间的时间长度。/n
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