[发明专利]用于非挥发性存储器的测试校调方法及测试校调电路有效
| 申请号： | 201910981001.1 | 申请日： | 2019-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN110751978B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 高璐 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及半导体集成电路设计和测试技术领域，具体涉及一种用于非挥发性存储器的测试校调方法及测试校调电路。用于非挥发性存储器的测试校调方法包括：接收控制信号；根据所述控制信号确定工作模式；从非挥发性存储器中读出修整数据；当所述工作模式为用户模式时，验证所述修整数据与前次写入所述非挥发性存储器中的数据是否一致；一致时，发送反馈信号。用于非挥发性存储器的测试校调电路包括：接口模块、模式控制模块、测试模块和响应分析模块；所述接口模块用于接收控制信号。本申请通过选择工作模式后从非挥发性存储器的OTP区中自动载入修整数据，从而能够简化用户模式下的验证流程。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 挥发性 存储器 测试 方法 电路 | ||
【主权项】：
1.一种用于非挥发性存储器的测试校调方法，其特征在于，包括：/n接收控制信号；/n根据所述控制信号确定工作模式；/n从非挥发性存储器的OTP区中读出修整数据；/n当所述工作模式为用户模式时，验证所述修整数据与前次写入所述非挥发性存储器OTP区中的数据是否一致；/n当所述修整数据与前次写入所述非挥发性存储器中的数据一致时，发送反馈信号。/n
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