[发明专利]多变量自相关过程残差T2有效

专利信息
申请号: 201910989916.7 申请日: 2019-10-17
公开(公告)号: CN110750078B 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 薛丽;李聪凯;王国东;陈洪根;张国辉;周昊飞;张霖;牛小娟 申请(专利权)人: 郑州航空工业管理学院
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418
代理公司: 郑州豫鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 41178 代理人: 魏新培
地址: 450000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明为多变量自相关过程残差T2控制图的可变抽样区间设计方法,用于减少多变量自相关过程残差T2控制图的平均报警时间,包括以下步骤:样本数据的分析与建模,平稳性检验;确定模型阶数;模型参数估计;计算控制图的统计量{Yt},控制图的参数设计;控制图的监控;ATS的蒙特卡洛算法;VSI残差T2控制图与FSI残差T2控制图的比较,可变抽样区间控制图较固定抽样区间控制图具有很大的优越性,它可以显著提高控制图的效率,使得失控过程能够及早被发现。
搜索关键词: 多变 相关 过程 base sup
【主权项】:
1.多变量自相关过程残差T
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