[发明专利]基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法有效
| 申请号： | 201910990550.5 | 申请日： | 2019-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN110929375B | 公开（公告）日： | 2021-08-31 |
| 发明（设计）人： | 李超;耿贺彬;郑深;方广有 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F17/15;G06F17/11;G06F111/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴梦圆 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法，包括：步骤S1：仿真分析标准透镜聚焦效果；步骤S2：采用射线追迹法优化透镜曲线；以及步骤S3：采用二维矩量法仿真分析验证标准透镜的聚焦效果；所述步骤S1包括如下子步骤：步骤S11：高斯波束的二维化处理；以及步骤S12：矩量法仿真分析介质透镜。所述基于二维矩量法和射线追迹法的透镜高效仿真、优化方法能够有效提高透镜仿真、优化设计的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 二维 矩量法 射线 追迹法 透镜 高效 仿真 优化 方法 | ||
【主权项】：
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