[发明专利]一种晶体颗粒度的光学检测装置及检测方法在审
| 申请号： | 201911032461.6 | 申请日： | 2019-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN110687021A | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 李丙轩;张戈;廖文斌;黄凌雄;陈玮冬;林长浪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 11540 北京元周律知识产权代理有限公司 | 代理人： | 校丽丽 |
| 地址： | 350002 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体颗粒度的光学检测装置及其检测方法，属于晶体颗粒度检测技术领域，能够解决现有颗粒度测量效率低、准确度差、测量成本高的问题。所述装置通过激光单元向待测晶体发射第一激光，利用检测单元接收从待测晶体出射的第二激光，并对第二激光的信号强度进行检测，其中第二激光的波长为第一激光波长的一半。本发明利用晶体在激光的作用下能产生非线性光学效应，使激光波长缩小一半，且非线性光信号强度对应晶体颗粒度的大小，检测单元接收该非线性光信号，并对其检测得到待测晶体的颗粒度数据。本发明结构简单，测量成本低，且通过非线性晶体的非线性光学性质作为测定颗粒度的依据，测量效率高，方便快捷，且测量结果准确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 晶体颗粒 检测 准确度 测量成本 单元接收 激光波长 非线性光学效应 非线性光学性质 光学检测装置 检测技术领域 非线性晶体 颗粒度测量 测量效率 激光单元 度数 晶体的 颗粒度 波长 出射 发射 | ||
【主权项】：
1.一种晶体颗粒度的光学检测装置，其特征在于，所述光学检测装置包括：/n激光单元，用于向待测晶体发射第一激光；/n检测单元，用于接收从所述待测晶体出射的第二激光，并对所述第二激光的信号强度进行检测；/n其中所述第二激光的波长为所述第一激光的波长的一半。/n
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